KLA lanceert revolutionair X-Ray Metrologie Systeem voor inline procescontrole van geavanceerde geheugenchips.
Afgelopen week kondigde KLA Corporation de lancering aan van het revolutionaire Axion® T2000 X-ray metrologiesysteem voor fabrikanten…
Rubriek: datawetenschappers
Met data herkennen en voorspellen
Samen met collega’s in Twente en Groningen heeft UT-wetenschapper Raymond Veldhuis een systeem ontwikkeld dat…
